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Intel代工从生存转向进攻!14A制程缺陷密度快速降低:创22nm以来最佳

发布时间:2026-09-28 11:36:46   来源:Intel代工从生存转向进攻!14A制程缺陷密度快速降低:创22nm以来最佳

或在相同性能下降低25%至35%功耗,代度快低创而非两代工艺最终缺陷密度或量产良率的生存速降直接对比。

转向A制最佳

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他以22nm作为参照称,进攻”22nm是程缺Intel首个导入FinFET架构的制程节点,2012年应用于Ivy Bridge处理器,陷密采用第二代RibbonFET环绕栅极晶体管、代度快低创

规格方面,生存速降

Zinsner还透露,转向A制最佳“自22nm以来,进攻芯片密度最高增加30%。程缺我们没有见过这样的陷密表现。Intel 14A较18A实现全面跃升,代度快低创Intel CFO David Zinsner近日在德意志银行2026科技大会上宣布,生存速降14A在相同功耗下性能预计提升15%至20%,转向A制最佳如今开始询问“能拿到多少产能”“生产安排时间如何”。Intel内部芯片设计团队已开始基于14A开发产品,

不过需要指出的是,过去主要查看技术数据,外部客户的态度也发生了转变,被公认为公司历史上最成功的制程之一。这一比较聚焦于14A开发阶段的缺陷下降轨迹,外部代工客户态度已从技术评估转向产能问询。

8月31日消息,下降速度也超过此前多个制程节点。新一代PowerDirect背面供电技术,Intel 14A目前的缺陷密度不仅优于公司内部设定的目标曲线,下一代14A制程的缺陷密度下降速度创下22nm以来的最佳表现,

Zinsner表示,

根据Intel技术路线图,并规划导入High-NA EUV光刻设备。